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公司依托專業的測試技術團隊與先進的軟硬件設備，構建了覆蓋芯片全生命周期的一體化測試能力體系，可為數字芯片、模擬芯片、混合信號芯片及特種定制芯片等多品類產品，提供全流程的測試解決方案。

其中DL1000集成電路測試系統，采用機柜加電纜結構的設計可兼容各種類型的機械手、探針臺以及其他儀表設備，DL1000測試系統可以測試數字信號芯片、模擬信號芯片，混合信號芯片等IC器件。

STS6100 數字集成電路測試系統是一個計算機輔助的、具有高度模塊化結構的新型集成電路綜合測試系統。該系統以數字集成電路測試模塊為核心，可快速、精確、全面的對各類大、中、小規模的隨機邏輯數字集成電路和各類通用存貯器 IC；主要測量和測試內容為被測器件的直流參數、動態功能及交流參數。

高低溫試驗箱在芯片測試中，模擬芯片在極端溫度環境下的工作狀態，驗證亓性能穩定性、功能可靠性與環境適應性，確保芯片在實際應用場景中能正常運行。